Аналитический центр

       Растровая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ являются одними из основных инструментов исследования вещества. Сканирующие электронные микроскопы служат для получения изображений поверхности в топографическом контрасте, а также контрасте по атомному номеру, а микроанализаторы - для проведения анализа химического состава объектов на поверхности исследуемых образцов.

       Высокая массовая локальная чувствительность (10^-13 — 10^-15г) и пространственная локальность (до 1 мкм) рентгеноспектрального микроанализа и разрешение растровой микроскопии, достигающее 1 нм, делают их весьма информативными при решении фундаментальных и прикладных задач в различных областях науки и техники.

       Геологам, материаловедам, инженерам каждый из этих методов в отдельности, а также их совместное использование дает такую информацию, которую невозможно получить применением других методов.

      В лаборатории ФМА для проведения исследования образцов методами электронной растровой микроскопии и электронно-зондового микроанализа имеются следующее оборудование:

• модернизированный электронно-зондовый микроанализатор МАР-3, имеющий 4 волновых спектрометра (ОАО "Красногорский механический завод"),
• электронный сканирующий микроскопе LEO 1430VP (Carl Zeiss, Германия.) с энергодисперсионным спектрометром INCAEnergy 350 (Oxford Instruments Analytical Ltd.).

Лаборатория ХСМА

зав.лаб. Цыренова Альбина Афанасьевна

т. (3012) 43-67-12

e-mail: chsma@geo.stbur.ru

Лаборатория ФМА

Изотопные методы

с.н.с. Посохов Виктор Федорович

т. (3012) 43-76-45

e-mail: vitaf1@yandex.ru

РФА - метод

к.т.н. Жалсараев Батоболот Жалсараевич

т. (3012) 43-76-45

e-mail: bzh@geo.stbur.ru

Методы РЭМ и РСМА

зав.лаб. ФМА к.г.-м.н. Канакин Сергей Васильевич

т. (3012) 43-76-45

mail: skan_61@mail.ru

ИСП-масс-спектрометрия

к.г.-м.н. Хубанов Валентин Борисович

т. (3012) 43-76-45

mail: khubanov@mail.ru