|
Растровая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ
|
Растровая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ являются
одними из основных инструментов исследования вещества. Сканирующие электронные
микроскопы служат для получения изображений поверхности в топографическом контрасте,
а также контрасте по атомному номеру, а микроанализаторы - для проведения анализа
химического состава объектов на поверхности исследуемых образцов.
|
Высокая массовая локальная чувствительность (10-13 — 10-15г) и пространственная
локальность (до 1 мкм) рентгеноспектрального микроанализа и разрешение растровой
микроскопии, достигающее 1 нм, делают их весьма информативными при решении
фундаментальных и прикладных задач в различных областях науки и техники.
|
Геологам, материаловедам, инженерам каждый из этих методов в отдельности,
а также их совместное использование дает такую информацию, которую невозможно получить
применением других методов.
|
В лаборатории ФМА для проведения исследования образцов методами электронной растровой микроскопии и электронно-зондового микроанализа имеются следующее оборудование:
-
модернизированный электронно-зондовый микроанализатор МАР-3,
имеющий 4 волновых спектрометра (ОАО "Красногорский механический завод"),
-
электронный сканирующий микроскопе LEO 1430VP
(Carl Zeiss, Германия.) с энергодисперсионным спектрометром INCAEnergy 350
(Oxford Instruments
Analytical Ltd.).
|
|
Лаборатория ХСМА
зав.лаб. Цыренова Альбина Афанасьевна
т. (3012) 43-67-12
e-mail: chsma@geo.stbur.ru
Лаборатория ФМА
Изотопные методы
с.н.с. Посохов Виктор Федорович
т. (3012) 43-76-45
e-mail: vitaf1@yandex.ru
РФА - метод
к.т.н. Жалсараев Батоболот Жалсараевич
т. (3012) 43-76-45
e-mail: bzh@geo.stbur.ru
Методы РЭМ и РСМА
зав.лаб. ФМА к.г.-м.н. Канакин Сергей Васильевич
т. (3012) 43-76-45
mail: skan_61@mail.ru
ИСП-масс-спектрометрия
к.г.-м.н. Хубанов Валентин Борисович
т. (3012) 43-76-45
mail: khubanov@mail.ru
|
|