 |
Растровая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ
Оборудование |
| |
|
|
|
Растровый электронный микроскоп LEO-1430VP (Carl Zeiss, Германия) с системой энергодисперсионного микроанализа INCA Energy 350 (Oxford Instruments, Великобритания). |
| |
|
Сканирующий электронный микроскоп LEO-1430VP позволяет получать высококачественные растровые изображения в обратно рассеянных и вторичных электронах для изучения объектов в топографическом, композиционном и смешанном контрастах.
Спектрометр INCA Energy 350 позволяет регистрировать рентгеновские спектры элементов от B до U, имеет удобное и эффективное программное обеспечение для проведения качественного и количественного микроанализа вещества.
Прибор может использоваться для проведения исследований в геологии и металловедении. Кроме того, специальный VP-режим вакуумной системы микроскопа позволяет изучать объекты без нанесения на них токопроводящего покрытия. Это дает возможность исследования биологических и полимерных материалов.
|
 |
Технические характеристики:
-
Увеличение микроскопа: от 36 до 300000 крат.
-
Энергетическое разрешение спектрометра на линии Mn Ka – 132 eV;
-
Анализ элементов от B до U
-
Анализ пространственного распределения элементов
-
Картирование распределения фаз различных по химическому составу
|
|
|
| |
Электронно-зондовый микроанализатор МАР-3 (Красногорский механичекий завод, Россия). |
| |
| Электронно-зондовый рентгеноспектральный микроанализатор МАР-3 после модернизации сотрудниками нашей лаборатории стал мощным автоматизированным прибором, позволяющим проведение полного анализа. Аппаратное увеличение скорости перемещения спектрометров более чем в пять раз и создание программного обеспечения, включающего в себя, разработанный авторами алгоритм расчетного способа учета тормозной составляющей фона, позволило резко увеличить производительность прибора. Угол выхода рентгеновского излучения, равный 56o обуславливает самое низкое влияние матричных эффектов на результат анализа среди всех подобных приборов. |
| |
 |
Технические характеристики:
-
Угол выхода излучения - 56 0.
-
Количество спектрометров - 4
-
Анализ элементов от F до U
-
Учет фона - измерение и/или расчет
-
Суммарная ошибка анализа не превышает одного процента
-
Возможность поиска объектов анализа в проходящем свете
|
|
|
|
|
Лаборатория ХСМА
зав.лаб. Цыренова Альбина Афанасьевна
т. (3012) 43-67-12
e-mail: chsma@geo.stbur.ru
Лаборатория ФМА
Изотопные методы
с.н.с. Посохов Виктор Федорович
т. (3012) 43-76-45
e-mail: vitaf1@yandex.ru
РФА - метод
к.т.н. Жалсараев Батоболот Жалсараевич
т. (3012) 43-76-45
e-mail: bzh@geo.stbur.ru
Методы РЭМ и РСМА
зав.лаб. ФМА к.г.-м.н. Канакин Сергей Васильевич
т. (3012) 43-76-45
mail: skan_61@mail.ru
ИСП-масс-спектрометрия
к.г.-м.н. Хубанов Валентин Борисович
т. (3012) 43-76-45
mail: khubanov@mail.ru
|
|
