Федеральное государственное бюджетное учреждение науки
Геологический институт им. Н.Л. Добрецова
Сибирского Отделения Российской академии наук
(ГИН СО РАН)
Мир Бурятия "Гравитация науки: Геологический институт БНЦ СО РАН"
Растровая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ
Растровая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ являются
одними из основных инструментов исследования вещества. Сканирующие электронные
микроскопы служат для получения изображений поверхности в топографическом контрасте,
а также контрасте по атомному номеру, а микроанализаторы - для проведения анализа
химического состава объектов на поверхности исследуемых образцов.
Высокая массовая локальная чувствительность (10-13 — 10-15г) и пространственная
локальность (до 1 мкм) рентгеноспектрального микроанализа и разрешение растровой
микроскопии, достигающее 1 нм, делают их весьма информативными при решении
фундаментальных и прикладных задач в различных областях науки и техники.
Геологам, материаловедам, инженерам каждый из этих методов в отдельности,
а также их совместное использование дает такую информацию, которую невозможно получить
применением других методов.
В лаборатории ФМА для проведения исследования образцов методами электронной растровой микроскопии и электронно-зондового микроанализа имеются следующее оборудование:
Вы ощущали землетрясение?
Просим Вас заполнить анкету Анкета
Основные научные направления
•
Эволюция тектонических структур, магматизма и рудообразования в различных геодинамических обстановках складчатых поясов;
•
Геоэкология Байкальского региона
Диссертационный совет Д 003.002.01.
К защите принимаются диссертации на соискание ученой степени кандидата и доктора наук по специальностям: 25.00.04 - петрология, вулканология; 25.00.11 - геология, поиски и разведка твердых полезных ископаемых, минерагения
Действует аспирантура по программам подготовки научных и научно-педагогических кадров по направлению подготовки 1.6 Науки о Земле и окружающей среде по следующим специальностям:
