Растровая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ являются одними из основных инструментов исследования вещества. Сканирующие электронные микроскопы служат для получения изображений поверхности в топографическом контрасте, а также контрасте по атомному номеру, а микроанализаторы - для проведения анализа химического состава объектов на поверхности исследуемых образцов.

       Высокая массовая локальная чувствительность (10^-13 — 10^-15г) и пространственная локальность (до 1 мкм) рентгеноспектрального микроанализа и разрешение растровой микроскопии, достигающее 1 нм, делают их весьма информативными при решении фундаментальных и прикладных задач в различных областях науки и техники.

       Геологам, материаловедам, инженерам каждый из этих методов в отдельности, а также их совместное использование дает такую информацию, которую невозможно получить применением других методов.

      В лаборатории ФМА для проведения исследования образцов методами электронной растровой микроскопии и электронно-зондового микроанализа имеются следующее оборудование:

• модернизированный электронно-зондовый микроанализатор МАР-3, имеющий 4 волновых спектрометра (ОАО "Красногорский механический завод"),
• электронный сканирующий микроскопе LEO 1430VP (Carl Zeiss, Германия.) с энергодисперсионным спектрометром INCAEnergy 350 (Oxford Instruments Analytical Ltd.).